El dock test: partir la placa en dos sin destapar el equipo

Si no carga: recorre la línea de carga

Con el plano y el multímetro, sigue el camino de la carga y mide en cada punto. Donde el voltaje se cae o desaparece, ahí está la falla:

• VBUS en el pin de carga: ~5 V.
• Entrada y salida del OVP: ~5 V.
• Alimentación del IC de carga: ~5 V.
• Salida hacia la batería (VBAT): ~4 V.

Y el recorrido completo de la energía de carga, en orden: conector USB → flex FPC de la sub-placa → conector de la placa principal → OVP → circuito integrado de carga → línea principal VBAT (en algunos equipos aparece como BBAT, y en iPhone con otro nombre) → conector de la batería y PMIC. Los 4 V regulados llegan a la batería a través de un interruptor interno del propio circuito de carga. Y una advertencia para leer planos: hay teléfonos que traen dos PMIC, no uno.

Un detalle que cambia el precio y el riesgo del trabajo: no todos los equipos llevan el pin de carga en el mismo sitio. Hay tres formas comunes de armarlo: el pin montado en una sub-placa aparte que se une con un flex, la placa partida en dos, o todo en una sola pieza con el pin soldado sobre la placa principal. Es la diferencia entre cambiar la chapa de una puerta y tener que cambiar el marco. Míralo ANTES de darle el precio al cliente.

El OVP parte la placa en dos: sector 1 y sector 2

En prueba de diodo, la señal que tú inyectas por el puerto de carga busca la salida a tierra más cercana y se devuelve. Todo el voltaje se cae en ese primer lazo: el chorrito del multímetro se gasta enterito ahí, igual que el agua que se va por el primer desagüe que encuentra y nunca llega al fondo del patio. Por eso la lectura no alcanza a ver lo que hay más allá del OVP. Eso, que suena a limitación, es la mejor pista de ubicación que tienes con el equipo todavía cerrado.

El cuadro es este: el celular llega encendido, o sea que VBAT está bueno; lo conectas a la fuente y la fuente se apaga, parpadea, la corriente se dispara o el voltaje se cae. Hay un corto en VBUS. Entonces mides VBUS con el dock test en modo diodo, y el número te dice de qué lado del guardia está el problema.

• Si marca 0 o casi 0 —por ejemplo unos 50 mV—, el corto está en el SECTOR 1, antes del OVP: puerto de carga, sub-placa, flex, conectores FPC o la entrada del OVP.
• Si marca un valor normal de unos cientos de milivoltios —en un Samsung A20 real dio 531 mV—, el sector 1 está sano y el corto está en el SECTOR 2, después del OVP: la salida del OVP, un capacitor de esa línea o la entrada del IC de carga.

El caso que lo demuestra: a una placa se le forzó un corto en el sector 2. El medidor USB mostraba el consumo bailando, y el dock test seguía marcando 531 mV, perfectamente normal.

Sector 1 sano no significa sector 2 sano. Puedes reparar el sector 1 y que la fuente siga apagándose, porque los dos estaban en corto. Es raro, pero pasa. Si arreglaste el sector 1 y el síntoma sigue igualito, mide continuidad antes y después del OVP antes de volver a empezar de ceros.

Hasta dónde alcanza a ver el dock test

Cuando mides con el dock test en prueba de diodo, lo que estás midiendo es UN lazo: sale del pin de VBUS, llega hasta el OVP y se devuelve por tierra. Nada más. Eso es todo lo que ve esa medición.

Y la línea de carga tiene tres tramos: del pin del puerto hasta el OVP; del OVP al circuito integrado de carga; y del circuito de carga al conector de la batería.

Desde afuera, con el teléfono todavía armado, esa prueba solo ve el tramo 1. De ahí salen dos criterios: si en VBUS te da cero o casi cero, el corto está entre el pin del puerto y la entrada del OVP —en un equipo de dos placas eso lo ubica en la sub-placa—. Si te da OL, la desconexión solo puede estar en tres sitios: el puerto de carga, la sub-placa, o el flex que las une, y se confirma abriendo y midiendo continuidad de punta a punta del flex.

Lo que esté más adentro, en los tramos 2 y 3, no se puede saber con esa medición. Por eso la respuesta correcta es «el tramo 1 está bien; del resto todavía no sé». Saber qué NO ve una herramienta vale tanto como saber qué ve.

La caída sigue apareciendo aunque la placa ya no esté

Esta trampa es de las que hacen dar por buena una línea que está cortada. Midiendo un Samsung A51 con el dock test, en modo diodo, el SBU (pin A8) dio alrededor de 500 mV y el CC (pin A5) alrededor de 700 mV. Valores que cualquiera firma como normales.

Entonces se retiró la placa principal y quedó SOLO la sub-placa, la del pin de carga. Se midió otra vez en los mismos pines y la caída seguía ahí, del mismo orden: unos 600 mV en el SBU y unos 700 mV en el CC. Y ahí salta la pregunta: ¿cómo puede haber caída de tensión si ya no hay placa a dónde llegar?

Porque en esas líneas hay diodos zener bidireccionales de protección justo ahí, y esos semiconductores producen la caída ellos solos, sin que la línea llegue a ninguna parte. Y los integrados, por dentro, también están hechos de semiconductores: hacen exactamente lo mismo.

Es el eco en la montaña: gritas, te contestan, y el que contestó fuiste tú mismo, rebotado en la piedra de al lado.

Conclusión, y es de las que hay que grabarse: una lectura «normal» NO demuestra que la línea llegue hasta la placa principal. Por eso el dock test se verifica por los dos lados —sub-placa y placa— antes de dar una línea por buena, y por eso la caída de tensión sola nunca cierra un diagnóstico.